测厚仪的种类和适用范围

1、磁性测厚仪：精度比较高，适用于用磁性材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、铜等

2、涡流测厚仪：适用导电金属上的非导电层厚度测量，但此相对于磁性测厚法精度低。

3、超声波测厚仪：仪器通过探头发出超声波以恒定速度在材料内部进行传播，并在其底面得到反射波后进行接收；

可测量多层涂镀层厚度，适合mm级别以上的厚度。可以测出基体的厚度。

4、电解测厚仪：利用法拉第原理设计，其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。是对被测部分的金属镀层进行局部阳极溶解，通过阳极溶解镀层达到基体时的电位变化及所需时间来进行镀层厚度的测量。

适合电镀层的测厚。

5、X射线测厚仪：通过X射线激发各种物质（如Mo、Ag、Mn）的特征X射线，然后测量被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量被释放出来的特征X射线的强度与标准片（或者对比样）对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加，但不是直线关系；通过标样和软件及算法（算法有FP法和经验系数法）得到一个接近实际对应关系的曲线.

适合测量超薄厚度。

不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过30微米。根据各种元素的能量不同，测量范围都不相同.

6、光谱共焦测厚仪：针对透光材料（如玻璃等），常规光学方案很难测量，而这恰恰是光谱共焦法的优势所在；其可适用于各种平板厚度的测量以及微小位移的测量，且与被测材料表面性质无关，与激光三角法相比几乎没有反射角的要求，具有对环境适应强，对温度等外部因素不敏感等特点。

7、电容测厚仪：是利用电容传感器来测量物体表面及其上方一定距离的厚度的方法。

常用于测量各种材料的厚度，包括金属、非金属、涂层以及多层结构等。

对于表面平滑的被测物体，可以使用接触式电容传感器；对于表面粗糙或有凸起物的被测物体，则需要使用非接触式电容传感器。